반도체는 눈에 보이지 않는 세상을 지배한다. 스마트폰, 자동차, 인공지능, 클라우드 서버에 이르기까지 모든 전자기기의 심장부에는 수십억 개의 트랜지스터가 집적된 칩이 들어 있다. 하지만 이 칩들이 설계한 대로 완벽하게 작동하기란 결코 쉬운 일이 아니다. 우리가 흔히 '반도체 수율'이라고 부르는 것은, 같은 웨이퍼 위에 만들어진 수많은 칩 중 얼마나 많은 칩이 실제로 사용 가능한지를 의미한다. 그리고 이 수율을 판단하고, 불량 칩을 걸러내는 역할을 하는 공정이 바로 '웨이퍼 테스트(Wafer Test)'다. 이 테스트는 반도체 공정의 마지막, 그러니까 패키징 직전에 수행되며, 눈에 보이지 않는 칩 속의 오류를 미리 찾아내 후공정에서 불필요한 비용이 낭비되지 않도록 막는 역할을 한다. 이 글에서는 웨이퍼 테..